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L3340三通道助磁直阻測(cè)試儀儀器內(nèi)部采用自動(dòng)助磁的方法,比直接用大電流測(cè)試速度快;并可選配消磁功能,可有效減小大電流測(cè)試直流電阻后剩磁大帶來(lái)的危害。
SUTE3340三通道助磁直阻測(cè)試儀儀器內(nèi)部采用自動(dòng)助磁的方法,比直接用大電流測(cè)試速度快;并可選配消磁功能,可有效減小大電流測(cè)試直流電阻后剩磁大帶來(lái)的危害。
L3320三通道助磁直阻測(cè)試儀儀器內(nèi)部可以存儲(chǔ)測(cè)試數(shù)據(jù)200條,還可以使用優(yōu)盤(pán)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)方便用戶(hù)導(dǎo)入電腦處理,并帶有RS232接口;
SUTE3320三通道助磁直阻測(cè)試儀內(nèi)部采用自動(dòng)助磁的方法,比直接用大電流測(cè)試速度快;并可選配消磁功能,可減小大電流測(cè)試直流電阻后剩磁大帶來(lái)的危害;
L3320D三通道直流電阻測(cè)試儀對(duì)于星型接法的繞組測(cè)試,儀器可以采取三相同時(shí)測(cè)試的方式測(cè)試A0、B0、C0相的電阻,節(jié)省測(cè)試時(shí)間;